GB/T 36479-2018 推荐性国家标准
GB/T 36479-2018 集成电路 焊柱阵列试验方法
GB/T 36479-2018 集成电路 焊柱阵列试验方法。该标准状态为现行，2018-06-07 发布，2019-01-01 实施。全文PDF下载。
CCS L55
GB/T 38341-2019 推荐性国家标准
GB/T 38341-2019 微机电系统（MEMS）技术 MEMS器件的可靠性综合环境试验方法
GB/T 38341-2019 微机电系统（MEMS）技术 MEMS器件的可靠性综合环境试验方法。该标准状态为现行，2019-12-31 发布，2020-04-01 实施。全文PDF下载。
GB/T 38447-2020 推荐性国家标准
GB/T 38447-2020 微机电系统（MEMS）技术 MEMS结构共振疲劳试验方法
GB/T 38447-2020 微机电系统（MEMS）技术 MEMS结构共振疲劳试验方法。该标准状态为现行，2020-03-06 发布，2020-07-01 实施。全文PDF下载。
GB/T 38446-2020 推荐性国家标准
GB/T 38446-2020 微机电系统（MEMS）技术 带状薄膜抗拉性能的试验方法
GB/T 38446-2020 微机电系统（MEMS）技术 带状薄膜抗拉性能的试验方法。该标准状态为现行，2020-03-06 发布，2020-10-01 实施。全文PDF下载。
GB/T 7092-2021 推荐性国家标准
GB/T 7092-2021 半导体集成电路外形尺寸
GB/T 7092-2021 半导体集成电路外形尺寸。该标准状态为现行，2021-03-09 发布，2021-10-01 实施。全文PDF下载。
GB/T 42972-2023 推荐性国家标准
GB/T 42972-2023 微波电路 检波器测试方法
GB/T 42972-2023 微波电路 检波器测试方法。该标准状态为现行，2023-09-07 发布，2024-01-01 实施。全文PDF下载。
GB/T 43061-2023 推荐性国家标准
GB/T 43061-2023 半导体集成电路 PWM控制器测试方法
GB/T 43061-2023 半导体集成电路 PWM控制器测试方法。该标准状态为现行，2023-09-07 发布，2024-04-01 实施。全文PDF下载。
GB/T 43538-2023 推荐性国家标准
GB/T 43538-2023 集成电路金属封装外壳质量技术要求
GB/T 43538-2023 集成电路金属封装外壳质量技术要求。该标准状态为现行，2023-12-28 发布，2024-07-01 实施。全文PDF下载。
GB/T 43939-2024 推荐性国家标准
GB/T 43939-2024 宇航用石英挠性加速度计伺服电路通用测试方法
GB/T 43939-2024 宇航用石英挠性加速度计伺服电路通用测试方法。该标准状态为现行，2024-04-25 发布，2024-08-01 实施。全文PDF下载。
GB/T 43940-2024 4 推荐性国家标准
GB/T 43940-2024 4Mb/s数字式时分制指令/响应型多路传输数据总线测试方法
GB/T 43940-2024 4Mb/s数字式时分制指令/响应型多路传输数据总线测试方法。该标准状态为现行，2024-04-25 发布，2024-08-01 实施。全文PDF下载。
GB/T 43931-2024 推荐性国家标准
GB/T 43931-2024 宇航用微波集成电路芯片通用规范
GB/T 43931-2024 宇航用微波集成电路芯片通用规范。该标准状态为现行，2024-06-29 发布，2024-10-01 实施。全文PDF下载。
GB/T 44775-2024 推荐性国家标准
GB/T 44775-2024 集成电路三维封装 芯片叠层工艺过程和评价要求
GB/T 44775-2024 集成电路三维封装 芯片叠层工艺过程和评价要求。该标准状态为现行，2024-10-26 发布，2025-05-01 实施。全文PDF下载。