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CCS L55

GB/T 43040-2023 推荐性国家标准

GB/T 43040-2023 半导体集成电路 AC/DC变换器测试方法

GB/T 43040-2023 半导体集成电路 AC/DC变换器测试方法。该标准状态为现行,2023-09-07 发布,2024-04-01 实施。全文PDF下载。
2026-10-22 查看下载 →
GB/T 43027-2023 推荐性国家标准

GB/T 43027-2023 高压电源变换器模块测试方法

GB/T 43027-2023 高压电源变换器模块测试方法。该标准状态为现行,2023-09-07 发布,2024-01-01 实施。全文PDF下载。
2026-10-22 查看下载 →
GB/T 46280.3-2025 推荐性国家标准

GB/T 46280.3-2025 芯粒互联接口规范 第3部分:数据链路层技术要求

GB/T 46280.3-2025 芯粒互联接口规范 第3部分:数据链路层技术要求。该标准状态为现行,2025-08-19 发布,2026-03-01 实施。全文PDF下载。
2026-10-21 查看下载 →
GB/T 46280.2-2025 推荐性国家标准

GB/T 46280.2-2025 芯粒互联接口规范 第2部分:协议层技术要求

GB/T 46280.2-2025 芯粒互联接口规范 第2部分:协议层技术要求。该标准状态为现行,2025-08-19 发布,2026-03-01 实施。全文PDF下载。
2026-10-21 查看下载 →
GB/T 34900-2017 推荐性国家标准

GB/T 34900-2017 微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构残余应变测量方法

GB/T 34900-2017 微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构残余应变测量方法。该标准状态为现行,2017-11-01 发布,2018-05-01 实施。全文PDF下载。
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GB/T 34899-2017 推荐性国家标准

GB/T 34899-2017 微机电系统(MEMS)技术 基于拉曼光谱法的微结构表面应力测试方法

GB/T 34899-2017 微机电系统(MEMS)技术 基于拉曼光谱法的微结构表面应力测试方法。该标准状态为现行,2017-11-01 发布,2018-05-01 实施。全文PDF下载。
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GB/T 34898-2017 推荐性国家标准

GB/T 34898-2017 微机电系统(MEMS)技术 MEMS谐振敏感元件非线性振动测试方法

GB/T 34898-2017 微机电系统(MEMS)技术 MEMS谐振敏感元件非线性振动测试方法。该标准状态为现行,2017-11-01 发布,2018-05-01 实施。全文PDF下载。
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GB/T 34894-2017 推荐性国家标准

GB/T 34894-2017 微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构应变梯度测量方法

GB/T 34894-2017 微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构应变梯度测量方法。该标准状态为现行,2017-11-01 发布,2018-05-01 实施。全文PDF下载。
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GB/T 34893-2017 推荐性国家标准

GB/T 34893-2017 微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构面内长度测量方法

GB/T 34893-2017 微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构面内长度测量方法。该标准状态为现行,2017-11-01 发布,2018-05-01 实施。全文PDF下载。
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GB/T 35010.3-2018 推荐性国家标准

GB/T 35010.3-2018 半导体芯片产品 第3部分:操作、包装和贮存指南

GB/T 35010.3-2018 半导体芯片产品 第3部分:操作、包装和贮存指南。该标准状态为现行,2018-03-15 发布,2018-08-01 实施。全文PDF下载。
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GB/T 35005-2018 推荐性国家标准

GB/T 35005-2018 集成电路倒装焊试验方法

GB/T 35005-2018 集成电路倒装焊试验方法。该标准状态为现行,2018-03-15 发布,2018-08-01 实施。全文PDF下载。
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GB/T 35086-2018 推荐性国家标准

GB/T 35086-2018 MEMS电场传感器通用技术条件

GB/T 35086-2018 MEMS电场传感器通用技术条件。该标准状态为现行,2018-05-14 发布,2018-12-01 实施。全文PDF下载。
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