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CCS H17

GB/T 24581-2022 推荐性国家标准

GB/T 24581-2022 硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法

GB/T 24581-2022 硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法。该标准状态为现行,2022-03-09 发布,2022-10-01 实施。全文PDF下载。
2026-10-22 查看下载 →
GB/T 42274-2022 推荐性国家标准

GB/T 42274-2022 氮化铝材料中痕量元素(镁、镓)含量及分布的测定 二次离子质谱法

GB/T 42274-2022 氮化铝材料中痕量元素(镁、镓)含量及分布的测定 二次离子质谱法。该标准状态为现行,2022-12-30 发布,2023-04-01 实施。全文PDF下载。
2026-10-22 查看下载 →
GB/T 14140-2025 推荐性国家标准

GB/T 14140-2025 半导体晶片直径测试方法

GB/T 14140-2025 半导体晶片直径测试方法。该标准状态为现行,2025-08-01 发布,2026-02-01 实施。全文PDF下载。
2026-10-21 查看下载 →
GB/T 35309-2017 推荐性国家标准

GB/T 35309-2017 用区熔法和光谱分析法评价颗粒状多晶硅的规程

GB/T 35309-2017 用区熔法和光谱分析法评价颗粒状多晶硅的规程。该标准状态为现行,2017-12-29 发布,2018-07-01 实施。全文PDF下载。
2026-10-20 查看下载 →
GB/T 4060-2018 推荐性国家标准

GB/T 4060-2018 硅多晶真空区熔基硼检验方法

GB/T 4060-2018 硅多晶真空区熔基硼检验方法。该标准状态为现行,2018-09-17 发布,2019-06-01 实施。全文PDF下载。
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GB/T 4059-2018 推荐性国家标准

GB/T 4059-2018 硅多晶气氛区熔基磷检验方法

GB/T 4059-2018 硅多晶气氛区熔基磷检验方法。该标准状态为现行,2018-12-28 发布,2019-11-01 实施。全文PDF下载。
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GB/T 37211.2-2018 推荐性国家标准

GB/T 37211.2-2018 金属锗化学分析方法 第2部分:铝、铁、铜、镍、铅、钙、镁、钴、铟、锌含量的测定 电感耦合等离子体质谱法

GB/T 37211.2-2018 金属锗化学分析方法 第2部分:铝、铁、铜、镍、铅、钙、镁、钴、铟、锌含量的测定 电感耦合等离子体质谱法。该标准状态为现行,2018-12-28 发布,2019-11-01 实施。全文PDF下载。
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GB/T 37211.1-2018 推荐性国家标准

GB/T 37211.1-2018 金属锗化学分析方法 第1部分:砷含量的测定 砷斑法

GB/T 37211.1-2018 金属锗化学分析方法 第1部分:砷含量的测定 砷斑法。该标准状态为现行,2018-12-28 发布,2019-11-01 实施。全文PDF下载。
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GB/T 37049-2018 推荐性国家标准

GB/T 37049-2018 电子级多晶硅中基体金属杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法

GB/T 37049-2018 电子级多晶硅中基体金属杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法。该标准状态为现行,2018-12-28 发布,2019-04-01 实施。全文PDF下载。
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GB/T 37385-2019 推荐性国家标准

GB/T 37385-2019 硅中氯离子含量的测定 离子色谱法

GB/T 37385-2019 硅中氯离子含量的测定 离子色谱法。该标准状态为现行,2019-03-25 发布,2020-02-01 实施。全文PDF下载。
2026-10-20 查看下载 →
GB/T 14849.3-2020 推荐性国家标准

GB/T 14849.3-2020 工业硅化学分析方法 第3部分:钙含量的测定

GB/T 14849.3-2020 工业硅化学分析方法 第3部分:钙含量的测定。该标准状态为现行,2020-03-06 发布,2021-02-01 实施。全文PDF下载。
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GB/T 14849.1-2020 推荐性国家标准

GB/T 14849.1-2020 工业硅化学分析方法 第1部分:铁含量的测定

GB/T 14849.1-2020 工业硅化学分析方法 第1部分:铁含量的测定。该标准状态为现行,2020-03-06 发布,2021-02-01 实施。全文PDF下载。
2026-10-19 查看下载 →
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