GB/T 42837-2023 推荐性国家标准
GB/T 42837-2023 微波半导体集成电路 放大器
GB/T 42837-2023 微波半导体集成电路 放大器。该标准状态为现行，2023-08-06 发布，2023-12-01 实施。全文PDF下载。
CCS L56
GB/T 42836-2023 推荐性国家标准
GB/T 42836-2023 微波半导体集成电路 混频器
GB/T 42836-2023 微波半导体集成电路 混频器。该标准状态为现行，2023-08-06 发布，2023-12-01 实施。全文PDF下载。
GB/T 42975-2023 推荐性国家标准
GB/T 42975-2023 半导体集成电路 驱动器测试方法
GB/T 42975-2023 半导体集成电路 驱动器测试方法。该标准状态为现行，2023-09-07 发布，2024-01-01 实施。全文PDF下载。
GB/T 44795-2024 推荐性国家标准
GB/T 44795-2024 系统级封装（SiP）一体化基板通用要求
GB/T 44795-2024 系统级封装（SiP）一体化基板通用要求。该标准状态为现行，2024-10-26 发布，2024-10-26 实施。全文PDF下载。
GB/T 42968.3-2025 推荐性国家标准
GB/T 42968.3-2025 集成电路 电磁抗扰度测量 第3部分：大电流注入（BCI）法
GB/T 42968.3-2025 集成电路 电磁抗扰度测量 第3部分：大电流注入（BCI）法。该标准状态为现行，2025-12-02 发布，2025-12-02 实施。全文PDF下载。
GB/T 4377-2018 推荐性国家标准
GB/T 4377-2018 半导体集成电路 电压调整器测试方法
GB/T 4377-2018 半导体集成电路 电压调整器测试方法。该标准状态为现行，2018-03-15 发布，2018-08-01 实施。全文PDF下载。
GB/T 35009-2018 推荐性国家标准
GB/T 35009-2018 串行NAND型快闪存储器接口规范
GB/T 35009-2018 串行NAND型快闪存储器接口规范。该标准状态为现行，2018-03-15 发布，2018-08-01 实施。全文PDF下载。
GB/T 14028-2018 推荐性国家标准
GB/T 14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法
GB/T 14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法。该标准状态为现行，2018-03-15 发布，2018-08-01 实施。全文PDF下载。
GB/T 35003-2018 推荐性国家标准
GB/T 35003-2018 非易失性存储器耐久和数据保持试验方法
GB/T 35003-2018 非易失性存储器耐久和数据保持试验方法。该标准状态为现行，2018-03-15 发布，2018-08-01 实施。全文PDF下载。
GB/T 35006-2018 推荐性国家标准
GB/T 35006-2018 半导体集成电路 电平转换器测试方法
GB/T 35006-2018 半导体集成电路 电平转换器测试方法。该标准状态为现行，2018-03-15 发布，2018-08-01 实施。全文PDF下载。
GB/T 35007-2018 推荐性国家标准
GB/T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
GB/T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法。该标准状态为现行，2018-03-15 发布，2018-08-01 实施。全文PDF下载。
GB/T 36477-2018 推荐性国家标准
GB/T 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法
GB/T 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法。该标准状态为现行，2018-06-07 发布，2019-01-01 实施。全文PDF下载。