GB/T 46567.1-2025 推荐性国家标准
GB/T 46567.1-2025 智能计算 忆阻器测试方法 第1部分：基础特性
GB/T 46567.1-2025 智能计算 忆阻器测试方法 第1部分：基础特性。该标准状态为现行，2025-10-31 发布，2025-10-31 实施。全文PDF下载。
CCS L40
GB/T 249-2026 推荐性国家标准
GB/T 249-2026 半导体分立器件型号命名方法
GB/T 249-2026 半导体分立器件型号命名方法。该标准状态为现行，2026-02-27 发布，2026-09-01 实施。全文PDF下载。
GB/T 7581-2026 推荐性国家标准
GB/T 7581-2026 半导体分立器件外形尺寸
GB/T 7581-2026 半导体分立器件外形尺寸。该标准状态为现行，2026-03-31 发布，2026-10-01 实施。全文PDF下载。
GB/T 7576-2026 推荐性国家标准
GB/T 7576-2026 半导体分立器件 大功率双极型晶体管空白详细规范
GB/T 7576-2026 半导体分立器件 大功率双极型晶体管空白详细规范。该标准状态为现行，2026-03-31 发布，2026-10-01 实施。全文PDF下载。
GB/T 4023.1-2026 推荐性国家标准
GB/T 4023.1-2026 半导体分立器件 第1部分：分规范
GB/T 4023.1-2026 半导体分立器件 第1部分：分规范。该标准状态为现行，2026-03-31 发布，2026-10-01 实施。全文PDF下载。
GB/T 11499-2026 推荐性国家标准
GB/T 11499-2026 半导体分立器件文字符号
GB/T 11499-2026 半导体分立器件文字符号。该标准状态为现行，2026-03-31 发布，2026-10-01 实施。全文PDF下载。
GB/T 46567.2-2026 推荐性国家标准
GB/T 46567.2-2026 智能计算 忆阻器测试方法 第2部分：线性度
GB/T 46567.2-2026 智能计算 忆阻器测试方法 第2部分：线性度。该标准状态为即将实施，2026-04-30 发布，2026-11-01 实施。全文PDF下载。
GB/T 20521.12-2026 推荐性国家标准
GB/T 20521.12-2026 半导体器件 第14-12部分：半导体传感器 基于CMOS成像的气体传感器的性能测试方法
GB/T 20521.12-2026 半导体器件 第14-12部分：半导体传感器 基于CMOS成像的气体传感器的性能测试方法。该标准状态为即将实施，2026-08-28 发布，2027-03-01 实施。全文PDF下载。