GB/T 34479-2017 推荐性国家标准
GB/T 34479-2017 硅片字母数字标志规范
GB/T 34479-2017 硅片字母数字标志规范。该标准状态为现行，2017-10-14 发布，2018-07-01 实施。全文PDF下载。
CCS H80
GB/T 35316-2017 推荐性国家标准
GB/T 35316-2017 蓝宝石晶体缺陷图谱
GB/T 35316-2017 蓝宝石晶体缺陷图谱。该标准状态为现行，2017-12-29 发布，2018-07-01 实施。全文PDF下载。
GB/T 37051-2018 推荐性国家标准
GB/T 37051-2018 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法
GB/T 37051-2018 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法。该标准状态为现行，2018-12-28 发布，2019-04-01 实施。全文PDF下载。
GB/T 14844-2018 推荐性国家标准
GB/T 14844-2018 半导体材料牌号表示方法
GB/T 14844-2018 半导体材料牌号表示方法。该标准状态为现行，2018-12-28 发布，2019-11-01 实施。全文PDF下载。
GB/T 16596-2019 推荐性国家标准
GB/T 16596-2019 确定晶片坐标系规范
GB/T 16596-2019 确定晶片坐标系规范。该标准状态为现行，2019-03-25 发布，2020-02-01 实施。全文PDF下载。
GB/T 16595-2019 推荐性国家标准
GB/T 16595-2019 晶片通用网格规范
GB/T 16595-2019 晶片通用网格规范。该标准状态为现行，2019-03-25 发布，2020-02-01 实施。全文PDF下载。
GB/T 29057-2023 推荐性国家标准
GB/T 29057-2023 用区熔拉晶法和光谱分析法评价多晶硅棒的规程
GB/T 29057-2023 用区熔拉晶法和光谱分析法评价多晶硅棒的规程。该标准状态为现行，2023-08-06 发布，2024-03-01 实施。全文PDF下载。
GB/T 14264-2024 推荐性国家标准
GB/T 14264-2024 半导体材料术语
GB/T 14264-2024 半导体材料术语。该标准状态为现行，2024-04-25 发布，2024-11-01 实施。全文PDF下载。