GB/T 6609.24-2026
GB/T 6609.24-2026 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第24部分：安息角及流动角的测定
GB/T 6609.24-2026 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第24部分：安息角及流动角的测定。该标准状态为即将实施，2026-…
2026-10-21
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GB/T 6609.27-2023
GB/T 6609.27-2023 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第27部分：粒度分析 筛分法
GB/T 6609.27-2023 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第27部分：粒度分析 筛分法。该标准状态为现行，2023-08-0…
2026-10-22
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GB/T 6609.30-2022
GB/T 6609.30-2022 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第30部分：微量元素含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法
GB/T 6609.30-2022 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第30部分：微量元素含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法。该标准状…
2026-10-19
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GB/T 6609.5-2026
GB/T 6609.5-2026 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第5部分：氧化钠、氧化钾含量的测定
GB/T 6609.5-2026 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第5部分：氧化钠、氧化钾含量的测定。该标准状态为即将实施，2026-…
2026-10-17
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GB/T 6609.6-2018
GB/T 6609.6-2018 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第6部分：氧化钾含量的测定
GB/T 6609.6-2018 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第6部分：氧化钾含量的测定。该标准状态为现行，2018-05-14 …
2026-10-20
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GB/T 6609.7-2026
GB/T 6609.7-2026 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第7部分：二氧化钛、三氧化二铬、氧化铜、氟、氯、三氧化二硼、五氧化二磷、硫酸根含量的测定 分光光度法
GB/T 6609.7-2026 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第7部分：二氧化钛、三氧化二铬、氧化铜、氟、氯、三氧化二硼、五氧化二…
2026-10-17
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GB/T 6611-2025
GB/T 6611-2025 钛及钛合金术语和图谱
GB/T 6611-2025 钛及钛合金术语和图谱。该标准状态为现行，2025-10-05 发布，2026-05-01 实施。全文PDF下载…
2026-10-18
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GB/T 6614-2014
GB/T 6614-2014 钛及钛合金铸件
GB/T 6614-2014 钛及钛合金铸件。该标准状态为现行，2014-09-03 发布，2015-06-01 实施。全文PDF下载。
2026-10-23
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GB/T 6616-2023
GB/T 6616-2023 半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试 非接触涡流法
GB/T 6616-2023 半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试 非接触涡流法。该标准状态为现行，2023-08-06 发布，202…
2026-10-18
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GB/T 6617-2009
GB/T 6617-2009 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
GB/T 6617-2009 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法。该标准状态为现行，2009-10-30 发布，2010-06-01 实施。全文…
2026-10-25
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GB/T 6618-2009
GB/T 6618-2009 硅片厚度和总厚度变化测试方法
GB/T 6618-2009 硅片厚度和总厚度变化测试方法。该标准状态为现行，2009-10-30 发布，2010-06-01 实施。全文P…
2026-10-25
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GB/T 6621-2009
GB/T 6621-2009 硅片表面平整度测试方法
GB/T 6621-2009 硅片表面平整度测试方法。该标准状态为现行，2009-10-30 发布，2010-06-01 实施。全文PDF下…
2026-10-25
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