GB/T 35010.3-2018 推荐性国家标准
GB/T 35010.3-2018 半导体芯片产品 第3部分：操作、包装和贮存指南
GB/T 35010.3-2018 半导体芯片产品 第3部分：操作、包装和贮存指南。该标准状态为现行，2018-03-15 发布，2018-08-01 实施。全文PDF下载。
推荐性国家标准
GB/T 35009-2018 推荐性国家标准
GB/T 35009-2018 串行NAND型快闪存储器接口规范
GB/T 35009-2018 串行NAND型快闪存储器接口规范。该标准状态为现行，2018-03-15 发布，2018-08-01 实施。全文PDF下载。
GB/T 14028-2018 推荐性国家标准
GB/T 14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法
GB/T 14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法。该标准状态为现行，2018-03-15 发布，2018-08-01 实施。全文PDF下载。
GB/T 35011-2018 推荐性国家标准
GB/T 35011-2018 微波电路 压控振荡器测试方法
GB/T 35011-2018 微波电路 压控振荡器测试方法。该标准状态为现行，2018-03-15 发布，2018-08-01 实施。全文PDF下载。
GB/T 35005-2018 推荐性国家标准
GB/T 35005-2018 集成电路倒装焊试验方法
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GB/T 35001-2018 推荐性国家标准
GB/T 35001-2018 微波电路 噪声源测试方法
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GB/T 35002-2018 推荐性国家标准
GB/T 35002-2018 微波电路 频率源测试方法
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GB/T 35003-2018 推荐性国家标准
GB/T 35003-2018 非易失性存储器耐久和数据保持试验方法
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GB/T 35006-2018 推荐性国家标准
GB/T 35006-2018 半导体集成电路 电平转换器测试方法
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GB/T 35007-2018 推荐性国家标准
GB/T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
GB/T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法。该标准状态为现行，2018-03-15 发布，2018-08-01 实施。全文PDF下载。
GB/T 36074.2-2018 推荐性国家标准
GB/T 36074.2-2018 信息技术服务 服务管理 第2部分：实施指南
GB/T 36074.2-2018 信息技术服务 服务管理 第2部分：实施指南。该标准状态为现行，2018-03-15 发布，2018-10-01 实施。全文PDF下载。
GB/T 36072-2018 推荐性国家标准
GB/T 36072-2018 活动断层探测
GB/T 36072-2018 活动断层探测。该标准状态为现行，2018-03-15 发布，2018-10-01 实施。全文PDF下载。