《微束分析 分析电子显微术 金属薄晶体试样中位错密度的测定方法》（GB/T 43088-2023）已由国家标准化管理部门正式发布。该标准于 2023-09-07 发布，2024-04-01 起实施。当前标准状态为「现行」。本页提供该国家标准的完整信息说明，全文 PDF 文件可通过下方链接获取。
标准基本信息
| 标准号 | GB/T 43088-2023 |
| 中文标准名称 | 微束分析 分析电子显微术 金属薄晶体试样中位错密度的测定方法 |
| 英文标准名称 | Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Measurement of the dislocation density in thin metals |
| 标准状态 | 现行 |
| 发布日期 | 2023-09-07 |
| 实施日期 | 2024-04-01 |
| 中国标准分类号（CCS） | G04 |
| 国际标准分类号（ICS） | 71.040.50 |
| 主管部门 | 国家标准委 |
| 归口部门 | 国家标准委 |
| 发布单位 | 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会 |
标准全文获取说明
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